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常用的工业CT扫描方式,工业CT测量误差来源

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常用的工业CT扫描方式,工业CT测量误差来源

工业CT作为工业无损检测的一种方法,那么常用的工业CT检测方式有哪些?有些时候进行CT检测存在误差,这些误差的来源又是什么?一起来看看"常用的工业CT扫描方式,工业CT测量误差来源"。

一、常用的工业CT扫描方式

常用的工业CT扫描方式有II代(TR)扫描、III代(RO)扫描。

III代(RO)扫描方式射线利用效率较高,成像速度较快,但是容易由于校正方法不佳而导致环状伪影(所以减弱或消除环状伪影是体现CT系统制造商技术水平的主要内容之一);

II代(TR)扫描方式的伪像水平远低于RO扫描方式,且可以根据样品大小方便地改变扫描参数(采样数据密度和扫描范围)。特别是检测大尺寸样品时其优越性更加明显,源探测器距离可以较小,以提高信号幅度等,II代扫描效率大约是III代扫描的1/10—1/5,但其对大回转直径工件检测有益。此外CT系统通常会具备数字射线检测成像(DR)功能。

二、工业CT测量误差来源

工业CT测量误差主要来源分析可以从以下几个方面着手,尤其需要注意的是在利用高精度外部尺寸测量结果对工业CT数据进行校准时,尤其对于使用平板探测器的系统来说,需要校准的尺寸应包含样品X-Y和X-Z两个平面(即平行和垂直与探测器的平面),工业CT数据在这两个方向上单个像素尺寸往往并不相等,这取决于重建矩阵的选择。

故在工业CT扫描过程中,应尽量避免样品放置时上下端面与射线平行,或者说应该尽量避免样品上下端面垂直于旋转轴,否则导致样品上下端面应采样不足,带来SDK重建为引,消除因采样不足导致的重建为引可以通过改变样品的放置方式来解决,

从投影重建图像过程中,主要的影响因素来自于射线硬化及射线散射带来的图像,硬化和散射伪影,导致图像灰度分布,偏离真实分布,给后续测量及阈值风格带来困难,这些伪影如果不经过适当的校正,会导致测量的可靠性降低。

一般来说减弱射线硬化影响,可以通过在采集数据时放置前置滤波板来调节,也可以通过后续硬化校正算法来改善。

数据处理过程中影响工业CT测量的主要因素有边界阈值的选择。例如工业CT重建之后获得物体的三维模型,在这一数据进行测量之前,首先需要选择适当的域值算法来分割材料与空气或不同材料之间的边界,也就是所谓的边缘检测过程,传统的阈值算法可能不够精,现在黑人性暴力作爱将通过改进算法,例如使用基于实际表面的边缘检测算法,或通过搜索图像法的方向像素变化能提高边缘检测的精度。

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